MEASURING INSRTUMENT

光学測定器

光の性質を用いた光学測定器の構築を、原理検討からお手伝いします。フォトクロスで独自に開発した測定器等を用いての各種装置や光学部品の光学特性測定サービスも展開しています。開発した測定器および一部のソフトウェアの販売も行っています。

赤外線分光特性

赤外線領域における光学材料の特性（屈折率、吸収係数、散乱係数）の測定が可能です。冷却管強下における測定についてもご相談ください。また、波長3um帯で分光特性の評価が可能な分光ユニットも販売しています。
分光透過率・反射率測定

光学フィルター等の光学素子や光学薄膜の分光特性を紫外線領域～赤外線領域（250nm～25um）で測定します。正反射率のみならず拡散反射率の評価も可能です。
非接触非球面形状測定

非球面形状の測定が可能な干渉計の測定装置を提供します。いわゆる干渉計方式に加えて、シャックハルトマンセンサーも内蔵されており、10nmの測定精度と50um程度のダイナミックレンジを併せ持ちます。
散乱特性評価

光学サンプルの統計的散乱特性（BRDF、BTDF、BSDF）の測定が可能です。赤外線や紫外線といった一般には測定が困難な波長域の測定や偏光特性の評価についてもご相談ください。
光学評価用クライオスタット

天文観測装置の技術を用いて、測定サンプルを液体窒素温度（~80K）、液体ヘリウム温度（~4K）まで冷却する冷却チャンバー（クライオスタット）を提供いたします。既存の光学測定機に搭載可能なサンプル冷却ユニットです。
色特性

特定の照明下に置かれたサンプルの色度や演色性をシミュレーションします。カラーメータに測定不能なサンプルや、試作前の評価に威力を発揮します。